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X射線顯微CT技術是一種強大的成像工具，它使用X射線對樣品進行高分辨率的三維成像。這種技術在醫(yī)學、材料科學、地質(zhì)學等領域都有廣泛的應用。盡管X射線顯微CT提供了很高的圖像質(zhì)量和解析度，但其成像質(zhì)量受到多種因素的影響。以下是一些主要的影響因素：1.X射線源的穩(wěn)定性與質(zhì)量-射線穩(wěn)定性：X射線源的穩(wěn)定性直接影響到成像質(zhì)量。不穩(wěn)定的X射線輸出可能導致圖像噪聲增加，降低圖像的清晰度和對比度。-射線質(zhì)量：X射線的波長和能量水平?jīng)Q定了其穿透力。不同材質(zhì)的樣品可能需要不同能量級別的X射線來優(yōu)...

在現(xiàn)代科學技術的眾多奇跡中，X射線顯微成像系統(tǒng)無疑是一個引人注目的技術瑰寶。它利用X射線的強大穿透力，為我們提供了一個觀察微觀世界的全新窗口。這種系統(tǒng)不僅能透視固體材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而且能夠在不破壞樣品的前提下，揭示其復雜的內(nèi)部構(gòu)造和組成。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時的吸收和散射現(xiàn)象。不同元素和化合物對X射線的吸收程度不同，利用這一性質(zhì)，X射線顯微成像可以高對比度地顯示出不同材料的分布和邊界。通過旋轉(zhuǎn)樣品并從多個角度進行照射和檢測，可以得到足夠的數(shù)據(jù)重建出三維的...

隨著全球?qū)η鍧嵞茉葱枨蟮娜找嬖鲩L，電池技術的進步成為推動這一轉(zhuǎn)變的關鍵因素之一。BrukerSkyScanX射線顯微鏡（XRM）因其在非破壞性高分辨率成像方面的優(yōu)異表現(xiàn)，正在電池材料研發(fā)與質(zhì)量控制中扮演著日益重要的角色。該技術的應用能夠提高電池性能、延長電池壽命，同時加速清潔能源的創(chuàng)新進程。BrukerSkyScanXRM是一種先進的3DX射線顯微成像技術，能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米級結(jié)構(gòu)進行非破壞性觀察。這一技術結(jié)合了高分辨率、快速成像和深度分析能力，可以對復雜樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行詳...

晶體學有時會讓人覺得很神奇，透過一個晶體，我們可以看到微觀的結(jié)構(gòu)細節(jié)。但是晶體在肉眼下就只是晶體，沒有X射線我們就只能看著它，可能對它無從下手。而且晶體結(jié)構(gòu)解析需要有一些已知的信息，不然我們就沒有辦法知道這里面會有什么。讓人失望的晶體做晶體實驗總是會遇到一些意想不到的情況，晶體的生長并不會按照我們的意愿進行。偶爾欣喜若狂地看到的晶體興許只是一些雜質(zhì)，或者只是鹽罷了。如果你是做蛋白晶體的，你一定會十分沮喪，心情一定是180°的轉(zhuǎn)彎。記得讀書時發(fā)生過無數(shù)次這樣的情況，然而一般看到...

失效分析（FailureAnalysis）是探究元器件失效根源的重要手段，旨在為元器件設計、工藝、制造等流程提供改進方向，從而提升產(chǎn)品良率和可靠性。在失效分析中，經(jīng)常遇到異形器件，其不規(guī)則的形狀與多元組件構(gòu)成的特征尤為明顯，直接影響著產(chǎn)品的性能。值得注意的是，特征尺寸在微米/亞微米級別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰(zhàn)。一方面，受限于傳統(tǒng)分析設備的空間分辨能力，元器件微小特征的微區(qū)分析會遇到難以準確定位和準確分析的障礙，直接影響了測試結(jié)果的準確性。對此，PHI創(chuàng)新性推出了掃描...

以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態(tài)電解質(zhì)的固態(tài)電池（SSB），具有高鋰離子電導率、低電子導電率（EC）、高機械和熱穩(wěn)定性以及寬電化學窗口等特點，有望成為推動下一代儲能技術騰飛的“種子選手”。不過研究發(fā)現(xiàn)LLZO表面容易產(chǎn)生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻（厚度、成分差異）絕緣層，導致LLZO與金屬鋰的潤濕性較差，從而在充放電過程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成，嚴重影響LLZO-SSBs的電化學性能。為了增強固態(tài)電解質(zhì)與金屬鋰的浸潤性，本...

在現(xiàn)代科學技術迅猛發(fā)展的今天，X射線顯微成像系統(tǒng)以其獨特的優(yōu)勢，在材料科學、生物學、醫(yī)學等諸多領域發(fā)揮著越來越重要的作用。這種技術通過利用X射線的強大穿透力和高分辨率成像能力，為科學家們提供了一種非破壞性的方式，深入觀察和分析各種材料的微觀結(jié)構(gòu)。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時的吸收和相移特性。當X射線穿過樣本時，不同密度和厚度的區(qū)域會以不同的程度吸收X射線，從而形成一幅反映樣本內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。通過高精度的探測器和先進的圖像處理算法，顯微成像系統(tǒng)能夠?qū)⑦@種差別轉(zhuǎn)化...

離子濺射源，作為表面分析設備（如XPS、AES和TOF-SIMS）的重要組件之一，不僅能清潔樣品表面，還能輔助深度剖析，揭示樣品的內(nèi)在結(jié)構(gòu)。根據(jù)構(gòu)成濺射離子的原子/分子個數(shù)，可將離子濺射源分為單離子源（如：Ar+、Xe+、O2+）和團簇離子源（如：C60、GCIB（GasClusterIonBeam））。其中，GCIB是由數(shù)百乃至數(shù)千個氣體原子/分子（如Ar-GCIB）組成的離子束，它能夠以極低的單原子能量進行蝕刻，實現(xiàn)樣品表面的平坦化效果。正因如此，GCIB在有機物刻蝕方面...